日本SENA檢查燈的型號及詳細介紹:
型號及介紹
1. 185LE
2. 185LE-AL
3. 185FI
4. 370TFI/R
5. 100LE
應(yīng)用場景
半導(dǎo)體晶圓檢測:用于檢測晶圓表面的微小缺陷,如劃痕、微粒、涂層不均等。
液晶面板檢測:用于檢測TFT面板、彩色濾光片、觸摸屏等的表面雜質(zhì)與微裂紋。
玻璃基板檢測:用于檢測玻璃基板表面的雜質(zhì)、微裂紋等。
材料分析:用于檢測金屬涂層均勻性、塑料部件注塑缺陷等。
這些型號的檢查燈均具備高照度、可調(diào)節(jié)照度、強制空冷等特性,能夠滿足不同工業(yè)檢測場景的需求。